蓋世汽車訊 據(jù)外媒報(bào)道，半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商Advantest Corporation已在一家主要的IC存儲(chǔ)設(shè)備制造商安裝了其第一款增強(qiáng)型T5851-STM16G測(cè)試儀，能夠進(jìn)行非易失性存儲(chǔ)器快速（NVMe）系統(tǒng)級(jí)測(cè)試覆蓋。
圖片來源：Advantest Corporation
通過擴(kuò)展T5851平臺(tái)的功能，Advantest能夠應(yīng)對(duì)市場(chǎng)對(duì)于使用球柵陣列（BGA）測(cè)試NVMe固態(tài)驅(qū)動(dòng)器（SSD）的需求，且自動(dòng)駕駛汽車等汽車應(yīng)用也越來越多地使用球柵陣列。
來源：蓋世汽車
作者：劉麗婷
本文地址：http://www.cslysp.cn/news/jishu/181110
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